詳細摘要: 產(chǎn)品描述:MProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
產(chǎn)品型號:MProbe Vis所在地:上海市更新時間:2025-05-28 在線留言通信電纜 網(wǎng)絡設備 無線通信 云計算|大數(shù)據(jù) 顯示設備 存儲設備 網(wǎng)絡輔助設備 信號傳輸處理 多媒體設備 廣播系統(tǒng) 智慧城市管理系統(tǒng) 其它智慧基建產(chǎn)品
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詳細摘要: 產(chǎn)品描述:MProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
產(chǎn)品型號:MProbe Vis所在地:上海市更新時間:2025-05-28 在線留言詳細摘要: 產(chǎn)品描述:反射光譜干涉法是一種非接觸式、無損的、快速的光學薄膜厚度測量技術(shù)。
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產(chǎn)品型號:MProbe MSP所在地:上海市更新時間:2025-05-28 在線留言詳細摘要: 產(chǎn)品描述:大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
產(chǎn)品型號:MProbe RT所在地:上海市更新時間:2025-05-28 在線留言詳細摘要: 產(chǎn)品描述:采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域
產(chǎn)品型號:MProbe NIR所在地:上海市更新時間:2025-05-28 在線留言詳細摘要: 產(chǎn)品描述:MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
產(chǎn)品型號:MProbe UVVisSR所在地:上海市更新時間:2025-05-28 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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